X射线成像系统及X射线成像方法
- 专利权人:
- 京东方科技集团股份有限公司
- 发明人:
- 王文琳,周莉
- 申请号：
- CN202010014060.4
- 公开号：
- CN111110262A
- 申请日:
- 2020.07.01
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种X射线成像系统及X射线成像方法。X射线成像系统包括:发射装置,用于出射准直X射线;调制装置,设置在发射装置与待测物体之间,用于调制准直X射线并形成调制光场;单像素探测装置,设置在待测物体远离调制装置的一侧,用于采集X射线经调制装置和待测物体后的测量信号;处理装置,与单像素探测装置连接,用于将测量信号与预先存储的参考信号进行空间关联计算,获得待测物体的图像。本发明实施例通过设置调制装置,实现了基于参考信号和测量信号空间关联关系获得待测物体的图像。由于采用单像素探测装置采集测量信号,降低了待测物体的采样时间,而且将X射线强度衰减到单光子量级,有效减轻了对生命体的伤害。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
