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Surveying system and method for measuring an implant-implant situation
专利权人:
SIRONA Dental Systems GmbH
发明人:
Joachim Pfeiffer,Frank Thiel
申请号:
DE102016213399
公开号:
DE102016213399A1
申请日:
2016.07.21
申请国别(地区):
DE
年份:
2018
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Vermessungssystem (1) zur Vermessung einer Implantat-Implantat-Situation (5) für eine Planung eines implantatgetragenen Zahnersatzteils (33) gestützt auf mindestens zwei Implantate (3, 4, 6, 7) umfassend eine Scanschablone (2) und die mindestens zwei gesetzten Implantate (3, 4, 6, 7). Die Scanschablone (2) weist dabei Aussparungen (11, 12, 13, 14) für die einzelnen Implantate (3, 4, 6, 7) auf, wobei an Oberflächenbereichen (24) um die Aussparungen (11, 12, 13, 14) erste Markierungen (25) angeordnet sind.The invention relates to a surveying system (1) for measuring an implant-implant situation (5) for planning an implant-borne dental prosthesis part (33) supported on at least two implants (3, 4, 6, 7) comprising a scanning template (2) and the at least two set implants (3, 4, 6, 7). The scanning template (2) has recesses (11, 12, 13, 14) for the individual implants (3, 4, 6, 7), wherein on surface regions (24) around the recesses (11, 12, 13, 14) first markings (25) are arranged.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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