盆栽水稻表型参数的全自动无损测量系统及测量方法
- 专利权人:
- 华中科技大学
- 发明人:
- 刘谦,骆清铭,杨万能,段凌凤,黄成龙,方伟,蒋霓,冯慧
- 申请号：
- CN201210006924.3
- 公开号：
- CN102589441A
- 申请日:
- 2012.01.11
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 周发军
- 摘要：
- 本发明涉及一种盆栽水稻表型参数全自动无损高通量的测量系统及测量方法，本发明由可编程控制器控制，输送线输送盆栽水稻，采用X射线成像系统拍摄水稻断层图像，三维可见光成像系统拍摄可见光图像，由工作站对所得图像进行处理，得到水稻各项参数。本发明首次提出并实现X射线断层扫描成像测定水稻分蘖数的新方法，将提取各个参数集成到一套系统中，成功建立第一套全自动、高通量、多参数和高精度的盆栽水稻表型参数自动提取系统。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
