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脑电波测量系统、脑电波测量方法及其程序
- 专利权人:
- 松下电器产业株式会社
- 发明人:
- 足立信夫,小泽顺,寺田佳久,森川幸治
- 申请号：
- CN201180005224.6
- 公开号：
- CN102711601A
- 申请日:
- 2011.06.13
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供一种脑电波测量系统、脑电波测量方法及其程序。脑电波测量系统具备：频率分析部，其在用户装载了测量脑电波信号的脑电波测量部时，将脑电波信号的频率功率按每个基准电极与测量电极的组来进行分析；不良情况电极判定部，其通过比较分析出的频率功率和第1阈值，判定每个电极的装载状态是否良好；不良情况要因推测部，其决定判定为装载状态不好的不良情况电极数、和参考预先存储的多个电极的位置而求出的不良情况电极接触于用户的位置，并参照不良情况模式，推测电极的装载状态不好的要因。由此，在日常生活环境下的脑电波测量中，判定在多个电极之中哪个电极因何种要因产生了不良情况，来推测不良情况要因，从而以简单的方式实现稳定的脑电波测量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
