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撮像装置
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
TSUCHIYA JIN,土屋 仁,ISHIGURO HIDETO,石黒 英人
申请号:
JP2015209883
公开号:
JP2016041266A
申请日:
2015.10.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To effectively restrict the influence of solar light on light receiving elements.SOLUTION: An imaging apparatus includes: a light receiving part 30 where multiple light receiving elements 34 for receiving light coming from a finger 200 are formed on the surface of a substrate 32 a band-pass filter 64A arranged between the light receiving part 30 and the finger 200 and light sources for irradiating the finger 200 with near-infrared light as inspection light. The wavelength λF at the time when the transmittance of the band-pass filter 64A gives a peak and the wavelength λL at the time when the intensity of the inspection light gives a peak are coincident with the wavelength of an absorption line of the solar light within the wavelength area BL of the near-infrared light.SELECTED DRAWING: Figure 3COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】受光素子に対する太陽光の影響を有効に抑制する。【解決手段】撮像装置は、指200から到来する光を受光する複数の受光素子34を基板32の面上に形成した受光部30と、受光部30と指200との間に設置されたバンドパスフィルター64Aと、近赤外光を検査光として指200に照射する光源とを具備する。バンドパスフィルター64Aの透過率がピークとなる波長λFと、検査光の強度がピークとなる波長λLとは、近赤外光の波長域BL内における太陽光の吸収線の波長と一致する。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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