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MEASUREMENT AND RESULTING COMPENSATION OF INTRAMEDULLARY NAIL DEFORMATION
专利权人:
发明人:
Michael W. Mullaney,Stephen T. Miller,William Brian Austin,Todd A. Martens
申请号:
US13868759
公开号:
US20130281884A1
申请日:
2013.04.23
申请国别(地区):
US
年份:
2013
代理人:
摘要:
The present disclosure relates to systems and methods for measuring deformation of an orthopedic implant in a patient to identify a location of a feature of the orthopedic implant in the patient. Mechanical locking features may be used to align a drilling guide with the feature of the orthopedic implant.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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