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脑损伤状况的辅助分析方法、装置、系统及存储介质
- 专利权人:
- 慧创科仪(北京)科技有限公司
- 发明人:
- 汪待发,邓皓
- 申请号：
- CN202210321111.7
- 公开号：
- CN114403812A
- 申请日:
- 2022.03.30
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2022
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种脑损伤状况的辅助分析方法、装置、系统及存储介质。所述辅助分析方法用于对新生儿脑损伤状况进行辅助分析，包括获取新生儿受检者在静息态的脑部的目标区域的近红外数据；基于所获取的近红外数据，在显示界面的第一区域内显示平铺模式的中枢节点图谱，包括第一脑图像以及中枢节点的标识，至少部分中枢节点能够平铺到第一脑图像中脑边缘以外的背景区域中，使得第一脑图像上的各个中枢节点不被遮挡。本发明将中枢节点、区域连接、功能连接以及与脑损伤状况相关联的特征指标等以图文结合的形式在界面上显示，使医生通过多角度查看、多图谱比对和多指标解读，提高新生儿脑损伤状况分析的准确性、可靠度和临床诊断效率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
