用于光子吸收系数测量的装置和方法
- 专利权人:
- 特温特大学
- 发明人:
- W·斯廷伯根
- 申请号：
- CN201080025663.9
- 公开号：
- CN102458231B
- 申请日:
- 2010.05.26
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种适合于测量组织中定量光子吸收系数的装置和方法，其中所述装置包括：适合于产生光子的第一光源；适合于测量以下至少一个的光测量元件：待被测量的光的强度、频率、频率偏移和相移；适合于在所述组织内的限定体积单元中产生限定声波图样的超声源，其中所述超声源适合于标记进入所述组织内的所述限定体积单元的来自所述第一光源或第二光源的光；以及适合于测量超声的超声测量元件，所述超声来自所述组织内的所述限定体积单元，并由进入所述组织内的所述限定体积单元的所述第一光源的光产生。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
