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Kalibrierungs-Phantom-Vorrichtung und Analysemethoden
专利权人:
KITWARE; INC.
发明人:
申请号:
DE202011110199
公开号:
DE202011110199U1
申请日:
2011.05.10
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Vorrichtung, die ausgebildet ist, um die grundlegenden Leistungseigenschaften von jeder Teilkomponente eines Abbildungssystems an einem präzisen räumlichen Ort zu erhalten, unter Verwendung eines virtuellen Erfassungs-Pipeline-Modells, ferner aufweisend, wobei die Vorrichtunga. geeignet ist zum Messen von Leistungseigenschaften von PSF-Faltung, Artefakten, Störung und Kantenschärfungb. in einer Vielzahl von optischen Bild-Abtast-Vorrichtungen verwendbar ist, einschließlich, aber nicht begrenzt auf CT, PET/CT, PET, MR, US, XR und NM undc. ferner Komponenten für Mehrfach-Energie-Röntgen-Leistungs-Analyse aufweist.The apparatus, which is constructed to the basic performance characteristics of each partial component of an imaging system at a precise spatial location to be obtained, with the use of a virtual viewing - pipeline - model, further comprising, wherein the apparatusa. suitable for measuring of performance characteristics of psf - folding, artifacts, the disturbance and edge enhancementexample, in a plurality of optical image - - sampling devices can be used, including, but not limited to ct, pet / ct, pet, mr, u.s. pat. no, xr and nm andc. furthermore, components for several times - energy - - - power x-ray analysis.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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