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Vorrichtung und Verfahren zur simultanen Erfassung von Aberrationen und Streulichtkenngrößen eines optischen Systems
专利权人:
TECHNISCHE UNIVERSITAET ILMENAU
发明人:
SEIFERT, BERND-ULLRICH,Bernd-Ullrich Seifert,SCHRAMM, STEFAN,Stefan Schramm,HAUEISEN, JENS, UNIV.-PROF. DR.-ING. HABIL.,Jens, Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Haueisen
申请号:
DE102011102176
公开号:
DE102011102176A1
申请日:
2011.05.20
申请国别(地区):
DE
年份:
2012
代理人:
摘要:
Mit der vorliegenden Erfindung soll eine Vorrichtung und ein Verfahren bereitgestellt werden, mit denen Aberrationen verschiedener Ordnungen sowie Streulichtkenngrößen eines optischen Abbildungs- bzw. Projektionssystems simultan erfasst, separiert und quantifiziert werden können.The device has an optical transmission system provided with two detection units (DET A, DET B) and a control and evaluation unit. The transmission system comprises a bistable reflective structure element (rSE) and a transmissive structure element in a plane that is arranged conjugated to a secondary light source (Q2). The light source is formed as a collimated illumination beam that is focused on a projection surface by an optical system (ZS). The transmission system comprises a beam splitter and a lens (L1) that is arranged in front of the reflective or transmissive structure element. The reflective and transmissive structure elements are designed as programmable diaphragms. Independent claims are also included for the following: (1) a method for parallel acquisition of aberrations and scattered light characteristics of an optical system (2) a method for sequential acquisition of aberrations and scattered light characteristics of an optical system.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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