There is provided a method and an arrangement for determining a position of interaction of a photon in an individual detector diode (22) of a photon-counting x-ray detector, characterized by determining the position of interaction in the detector diode (22) based on pulse characteristics of a pulse generated by the individual detector diode in response to the photon interaction.L'invention concerne un procédé et un agencement pour déterminer une position d'interaction d'un photon dans une diode de détection individuelle (22) d'un détecteur de rayons x à comptage de photons, caractérisé par la détermination de la position d'interaction dans la diode de détection (22) sur la base des caractéristiques d'impulsion d'une impulsion générée par la diode de détection individuelle en réponse à l'interaction de photons.
