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通过量子计数检测器来优化信号检测
专利权人:
西门子股份公司
发明人:
S·卡普勒
申请号:
CN201510765334.2
公开号:
CN105581804B
申请日:
2015.10.11
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
描述了一种用于设置具有多个像素(4)的x射线检测器的巨像素信号(S)的检测的方法(200),该多个像素每个被组合以形成至少一个巨像素并且每个检测单个信号(si)。在该方法(200)中,首先建立单个像素(4)的几何效率(ei)和信号漂移因素(di)。另外,建立目标漂移值(t)。还定义了参数(λ),其设置巨像素信号S的允许漂移和可实现剂量效率之间的折中。基于建立的参数,考虑将得到的巨像素信号的信号漂移以及还有剂量利用考虑在内的取决于像素信号(si)的权重(wi)的函数(f(wi))来建立单个像素信号的权重(wi)。最后,基于建立的权重(wi)来定义形成巨像素信号(S)的单个像素信号(si)的加权相加。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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