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DIRECT MEASURING AND CORRECTION OF SCATTER FOR CT
专利权人:
发明人:
申请号:
EP06795859.5
公开号:
EP1926431B1
申请日:
2006.09.01
申请国别(地区):
EP
年份:
2014
代理人:
摘要:
Cone-beam CT scanners with large detector arrays suffer from increased scatter radiation. This radiation may cause severe image artefacts. An examination apparatus is provided which directly measures the scatter radiation and uses this measurement for a correction of the contaminated image data. The measurement is performed by utilizing a 1- dimensional anti-scatter-grid and an X-ray tube with an electronic focal spot movement. Image data is detected at a first position of a focal spot and scatter data is detected at a second position of the focal spot. The image data is corrected on the basis of the scatter data.Les scanners de tomographie par ordinateur (CT) à faisceau conique présentant des groupes élevés de détecteur sont soumis à une dispersion de rayonnement accrue. Ce rayonnement peut provoquer des artéfacts graves dans limage. Selon un mode de réalisation de linvention, un dispositif dexamen mesure directement le rayonnement dispersé et utilise cette mesure pour corriger les données dimage contaminées. Cette mesure peut être exécutée au moyen dun réseau antidispersion unidimensionnel et dun tube à rayons X pourvu dun déplacement électronique de point focal.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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