X 射线检查装置和方法
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- R·普罗克绍
- 申请号：
- CN201080033602.7
- 公开号：
- CN102469975B
- 申请日:
- 2010.07.20
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种X射线检查装置和相应的方法。在每个探测时段内执行快速和定期的X射线通量的调节，在探测时段的开始时，使X射线通量低，以确保无探测通道过载。随着X射线通量的增加，探测到特别是外围的探测器通道将进入饱和。饱和的探测器通道被停止，不再进一步辐射探测，测量未饱和的辐射探测的有效时间，用于校正那些探测信号。对从已饱和的探测通道的探测信号进行任何校正之后，根据所有的探测信号重建X射线图像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
