基于单脉冲激光诱导击穿光谱技术的大米中铜含量检测方法

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专利权人:

浙江大学

发明人:

刘飞,叶蓝韩,宋坤林,彭继宇,冯雷,何勇

申请号：

CN201610864012.8

公开号：

CN106501236A

申请日:

2016.09.30

申请国别(地区):

中国

年份:

2017

代理人:

胡红娟

摘要：

本发明公开一种基于单脉冲激光诱导击穿光谱技术的大米中铜含量检测方法，包括：(1)将大米在铜溶液中浸泡，室温干燥后，经研磨、过筛，利用压片机压成片状；(2)获取各个测试样本的激光诱导击穿光谱数据X；(3)选择火焰‑原子吸收光谱法测量各浓度样本中铜元素的真实含量Y；(4)根据波长与元素之间的对应关系，在原始LIBS光谱数据中找到Cu I 324.754nm和Cu I 327.396nm所对应的波峰强度X₁；(5)剔除异常样本后，获得数据X₂；(6)对数据X₂进行预处理，得到数据集X₃；(7)利用线性拟合，以其X₃为输入，Y为输出，建立线性回归模型：(8)利用所述的线性回归模型对一定量样本中的铜含量进行定量分析，验证模型的准确性。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/