Beschrieben sind ein Verfahren und eine Optikvorrichtung zum Abbilden eines innerhalb eines dreidimensionalen Probenbereichs (101) befindlichen Objektes (103), umfassend die folgenden Schritte: a) Ermitteln, zumindest an einem lateralen Punkt (119), eines Tiefenprofils (1375) des Probenbereichs (101) mittels optischer Kurzkohärenz-Interferometrie b) Erkennen eines Peaks (1353) in dem Tiefenprofil, der von einer Reflexion an einem Objektpunkt (120) herrührt c) Bestimmen einer optische-Weglänge-Position (1354) des Peaks (1353), welche die optische Weglänge des Objektpunktes (120) von einem Referenzpunkt (136) repräsentiert d) Berechnen, basierend auf der optische-Weglänge-Position (1354) und zumindest einer vorbekannten optischen Eigenschaft (n) des Probenbereichs (101), einer geometrische-Weglänge-Position des Objektpunktes, welche eine geometrische Weglänge (gWI) des Objektpunktes (120) von dem Referenzpunkt (136) repräsentiert e) Fokussieren eines Mikroskops (111) auf den Objektpunkt (120) basierend auf der geometrische-Weglänge-Position (gWI) zum Abbilden des Objektes (103).Described is a method and an optical apparatus for creating an image of an object (103) located within a three-dimensional sample region (101), said method comprising the following steps: a) determining a depth profile (1375) of the sample region (101) at least at one lateral point (119) by means of optical low-coherence interferometry b) identifying a peak (1353) in the depth profile resulting from the reflection off a point (120) on the object c) determining an optical distance position (1354) of the peak (1353) representing the optical distance of the point (120) on the object from a reference point (136) d) calculating a geometrical distance position of the point on the object on the basis of the optical distance position (1354) and at least one previously known optical property of the sample region (101), said geometrical distance position representing a geometrical distance (gWI) of the p
