一种测量土壤孔隙率的方法
- 专利权人:
- 中国农业大学
- 发明人:
- 孙宇瑞,张慧娟,林剑辉,蔡祥
- 申请号：
- CN200810119231.9
- 公开号：
- CN101344474B
- 申请日:
- 2008.08.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2011
- 代理人:
- 张国良
- 摘要：
- 本发明涉及一种根据土壤表面粗糙度测量土壤表层孔隙率的方法。所述方法包括以下步骤：在土壤表面选择采样点，在土壤上方选择水平面，测量采样点到水平面的距离，计算土壤表面粗糙度量化指数，计算得到土壤表面孔隙率。该方法与现有技术相比，具有快速、无损、高精度的优点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
