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耐大豆疫霉根腐病的数量遗传位点确定方法及该位点应用
- 专利权人:
- 李文滨
- 发明人:
- 李文滨,韩英鹏,滕卫丽
- 申请号：
- CN200710072698.8
- 公开号：
- CN101372710A
- 申请日:
- 2007.08.24
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2009
- 代理人:
- 陈晓光
- 摘要：
- 耐大豆疫霉根腐病的数量遗传位点的确定方法及该位点应用。利用随机引物(RAPD)及简单重复序列引物(SSR)和序列特征应用区间引物(SCAR)对耐病性品种(♀)×感病品系(♂)的后代家系的DNA进行分析(基因型数据分析)。再用国内外混合菌株对后代家系进行接种鉴定并且统计病害损失率(表现型数据分析)。通过回归计算大豆疫霉根腐病的耐病数量遗传位点(QTL)存在的阙值，利用WinQTLCarter2.0检测是否存在大豆疫霉根腐病的耐病数量遗传位点(QTL)。通过对母本及其家系或衍生品种的DNA测定，来判断该家系或衍生品种是否含有该数量遗传位点(QTL)，可预测该家系或衍生品种是否存在耐病性，从而加快耐大豆疫霉根腐病品种(系)的选育速度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
