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从经过轨迹时记录的X射线投影中确定图像的方法和装置
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- 弗兰克·登纳林,斯蒂芬·霍普,马库斯·科沃希克,霍尔格·舍尔
- 申请号：
- CN201010173836.3
- 公开号：
- CN101879070B
- 申请日:
- 2010.05.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于借助运动的X射线源(2)和为拍摄投影而设置的探测器(5)确定对于对象(P)的衰减系数的方法。按照本发明，如下地实现本发明：对于运动的X射线源(2)确定轨迹；在该轨迹上确定如下位置，这些位置用于确定通过探测器(5)拍摄的投影的导数；对于这些确定的位置的每一个，确定多个采样位置；利用运动的X射线源(2)经过该轨迹，并且对于每个采样位置拍摄一个投影；对于每个位置分别借助对于所属的多个采样位置所拍摄的投影，数值地计算关于轨迹的投影导数；并且从所计算的投影导数中，借助用于重建的理论上精确的或近似的准则确定对于对象(P)的衰减系数。本发明使得可以减少投影并由此减少患者剂量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
