基于切向偏振的超分辨荧光显微方法及装置
- 专利权人:
- 浙江大学
- 发明人:
- 匡翠方,郝翔,刘旭,王婷婷
- 申请号：
- CN201010225017.9
- 公开号：
- CN101907766B
- 申请日:
- 2010.07.09
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2011
- 代理人:
- 胡红娟
- 摘要：
- 本发明公开了基于切向偏振的超分辨荧光显微方法，包括：将切向偏振激发光进行0～2π涡旋位相编码聚焦，在荧光样品上得到衍射极限以下的激发光斑；调整使切向偏振STED激光与位相编码切向偏振激发光汇合且同轴，在荧光样品上聚焦形成中心点与激发光斑中心点重合的面包圈状的聚焦光斑；调整STED激光的工作功率，使激发光斑中发光点的面积缩小达到超高分辨率；收集发光点发出的荧光，探测处理后得到超高分辨率的显微图像。本发明还公开了用于实现上述基于切向偏振的超分辨荧光显微方法的装置。本发明中，在保证高分辨率的情况下，大大降低了STED的工作功率，从而降低样品的漂白，避免对样品的损坏。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
