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一种基于荧光成像分析的微界面羟基自由基表征方法
- 专利权人:
- 天津城建大学
- 发明人:
- 张硕,郑剑锋,孙力平,臧春元,樊雪峰
- 申请号：
- CN201610409040.0
- 公开号：
- CN106124463A
- 申请日:
- 2016.06.09
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 温福雪
- 摘要：
- 本发明属于高级氧化水污染控制领域，涉及一种基于荧光成像分析的微界面羟基自由基表征方法。本发明提出利用荧光显微成像分析技术表征催化材料微界面的HO·生成强度。基于香豆素分子与HO·以1：1的剂量迅速作用转化成具有荧光发光性质的七羟基香豆素，且本团队已经研究证实了七羟基香豆素浓度与特定波长区域的荧光显色特性及强度密切相关。通过向非均相反应体系中投加过量的香豆素作为HO·捕获剂，进而借助荧光显微比色法能够有效的间接获取催化材料表层HO·的强度信息。本方法实现对非均相动态催化体系中固‑液微界面HO·的半定量检测；能以成像的方式直接识别并表达功能性材料的催化效能；此方法抗干扰性强，操作步骤相对简单。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
