CHETHAM SCOTT,チータム、スコット,WARD ANDREW WILLIAM,ウォード、アンドリュー ウィリアム,KENNEDY JAMES MCFARLANE,ケネディ、ジェームズ マックファーレーン
申请号：
JP2014089560
公开号：
JP2014158949A
申请日:
2014.04.23
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要：
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for performing impedance measurement on an object.SOLUTION: A device has a first processing system 10 for determining an impedance measurement procedure and determining an instruction corresponding to the measurement procedure. A second processing system 17 receives an instruction and generates a control signal used for applying one or more signals on the object using the instruction. The second processing system 17 receives first data indicating one or more signals to be applied to the object and second data indicating one or more signals to be measured through the object and performs at least preliminary processing of the first and second signals to determine an impedance value.【課題】対象上でインピーダンス測定を実行するための装置を提供する。【解決手段】装置はインピーダンス測定手順を決定し、該測定手順に対応する命令を決定するための第一処理システム１０を有する。第二処理システム１７は命令を受け取り、該命令を用いて対象に一つ以上の信号を印加するために用いられる制御信号を生成するために提供される。第二処理システム１７は対象に印加される一つ以上の信号を示す第一データと、対象を介して測定される一つ以上の信号を示す第二データを受け取り、第一および第二信号の少なくとも予備処理を実行し、インピーダンス値を決定する。【選択図】図３
