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一种植入式双性能测试微电极阵列
- 专利权人:
- 中国人民解放军军事医学科学院基础医学研究所
- 发明人:
- 王常勇,陈威震,王妍,林秋霞,韩尧,杜芝燕,段翠密
- 申请号：
- CN201110172944.3
- 公开号：
- CN102390801A
- 申请日:
- 2011.06.24
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了属于微机械加工技术领域的一种植入式双性能测试微电极阵列。该微电极阵列由至少一个以上微电极和外部电缆束组成，每个微电极包括电生理学微电极、电化学微电极、电极基底、电极内引线、电生理学引线接口、电化学引线接口、引线接口基底、电生理学电极表面涂层、电化学表面电极涂层。具有涂层的微电极分布在电极基底的表面，并且在水平方向上有两个距离相对适宜且对应的微电极，分别用于电生理和电化学测量，外部电缆束中的电缆将引线接口与外部设备连接起来向外部设备输出信号。本发明基于神经系统的空间结构特点，能够在有效的空间内实现神经元的电生理电信号记录和电化学递质的同时检测。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
