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HYBRID EXAMINATION SYSTEM HAVING AN MR SCANNER, AN X RAY SOURCE AND AN X RAY DETECTOR
专利权人:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
发明人:
Oliver Heid,Jürgen Heller,Timothy Hughes,Michael Kleeman
申请号:
US14428993
公开号:
US20150247907A1
申请日:
2012.09.21
申请国别(地区):
US
年份:
2015
代理人:
摘要:
An examination system including a magnetic resonance scanner having a solenoid for generating a magnetic field, the solenoid surrounding an examination chamber is provided. In addition, a first X-ray source and a first X-ray detector are provided in the examination chamber.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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