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用于加强CD4+T细胞应答的经修饰表位
专利权人:
鲁汶天主教大学;生命科学研究合作伙伴VZW公司
发明人:
J-M·圣-莱美
申请号:
CN201380007164.0
公开号:
CN104220080A
申请日:
2013.01.30
申请国别(地区):
中国
年份:
2014
代理人:
陶家蓉
摘要:
本发明涉及包含T细胞表位的免疫原性肽。所述的表位经修饰从而与用不含所述修饰的相同的肽得到的CD4+T细胞应答相比,可以得到强得多的CD4+T细胞应答。具体地,该修饰是添加半胱氨酸、插入半胱氨酸或使位于该肽的MHC-结合位点的外侧相邻的位置上的残基突变成半胱氨酸。还公开了这类经修饰的肽在治疗、抑制或预防诸如感染性或过敏性疾病和自身免疫疾病的疾病、预防或抑制移植物排斥或肿瘤细胞的根除中的用途。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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