光子计数探测器校准
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- C·O·斯基拉,A·特伦,H·德尔,E·勒斯尔
- 申请号：
- CN201480025725.4
- 公开号：
- CN105188547B
- 申请日:
- 2014.10.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 一种方法包括通过组合光子计数探测器的启发式校准和光子计数探测器的分析式校准来确定针对校准谱成像系统的光子计数探测器的校准因子,以及基于所述启发式校准和所述分析式校准的组合来生成光子计数校准因子的集合。当所述光子计数校准因子被应用于来自对象或物体的谱CT扫描的光子计数探测器的所述测得的能量分辨数据时,减轻由对所述谱CT扫描的辐射射束进行滤波的辐射强度轮廓整形器导致的谱失真。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
