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粒子束流照射装置及粒子束流照射装置的控制方法
- 专利权人:
- 株式会社东芝;独立行政法人放射线医学综合研究所
- 发明人:
- 塙胜词,井关康,角谷畅一,古川卓司,稻庭拓,佐藤真二,野田耕司
- 申请号：
- CN201180018393.3
- 公开号：
- CN102883777A
- 申请日:
- 2011.02.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供了一种能够对每一粒子束流的剂量进行高可靠性测量并且能够对由瞬间粒子束流发射导致的泄露剂量进行高灵敏度测量的粒子束流照射装置。根据本发明的粒子束流照射装置包括：发射控制部分，其控制粒子束流的发射和终止；控制部分，其顺次改变相对于患区的粒子束流的照射位置；第一和第二放射量测定器，其测量被引导到患区的粒子束流的放射剂量率；以及异常确定部分，其累积在每一预定的确定时间段内从第一和第二放射量测定器输出的放射剂量率，以计算第一和第二部分剂量测量值，并且执行第二异常确定，所述第二异常确定在以下的至少一种情况下确定存在异常并且输出用于终止粒子束流的发射的互锁信号：第一部分剂量测量值超出预定的第一参考范围的情况，以及第二部分剂量测量值超出预定的第二参考范围的情况。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
