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光刻机匹配方法
专利权人:
中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人:
茅言杰,李思坤,王向朝
申请号:
CN201810811341.5
公开号:
CN109031892A
申请日:
2018.07.23
申请国别(地区):
中国
年份:
2018
代理人:
张宁展
摘要:
一种光刻机匹配方法,本方法以空间像关键尺寸作为描述光刻机成像性能的参数,通过遗传算法优化像素化描述的光刻机的照明光源,实现光刻间高精度匹配。本发明充分利用了自由照明系统光源自由度高的优势,提高了现有方法的匹配精度,适用于具有自由照明系统的浸没式光刻机或干式光刻机之间的匹配。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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