一种基于双频磁场磁纳米磁化强度的温度测量方法
- 专利权人:
- 华中科技大学
- 发明人:
- 魏凯,刘文中,杜中州,黄志兴
- 申请号：
- CN201510220637.6
- 公开号：
- CN104856655A
- 申请日:
- 2015.05.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于双频磁场磁纳米磁化强度的温度测量方法，属于磁纳米测试技术领域。本发明将磁纳米样品放置在待测对象处，对放置磁纳米样品的区域施加双频激励磁场，采集双频磁场激励下磁纳米样品的磁化强度信号，然后从中提取出各次谐波幅值，最后根据谐波与温度的关系构建方程组求解温度。本发明可以快速准确的测量物体温度，特别适用于非接触式温度测量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
