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一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置
- 专利权人:
- 北京农业信息技术研究中心
- 发明人:
- 李斌,罗长海,张永珍,王姝言,孙晓冬
- 申请号：
- CN201820945938.4
- 公开号：
- CN208255051U
- 申请日:
- 2018.06.19
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 王莹`吴欢燕
- 摘要：
- 本实用新型涉及样品研磨技术领域，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构，所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接，所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器，所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构，所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本实用新型所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰，获得样品最佳研磨结果，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
