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PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE SYSTÈME D'IMAGERIE À PARTICULES MAGNÉTIQUES
专利权人:
ASELSAN ELEKTRONİK SANAYİ VE TİCARET ANONİM ŞİRKETİ
发明人:
TOP, Can Barış,İLBEY, Serhat,GÜNGÖR, Alper,GÜVEN, Hüseyin Emre
申请号:
TRTR2018/050225
公开号:
WO2019/216839A1
申请日:
2018.05.11
申请国别(地区):
TR
年份:
2019
代理人:
摘要:
The present invention discloses a method of calibrating magnetic particle imaging system that consists of a magnetic field generator and a measurement device by proposing a coded calibration scene that contains multiple nanoparticle samples distributed inside its volume, larger than the field of view on which the scene is moved linearly in one or more directions and/or rotated at one or more axes, and further, a mechanical system for moving the coded calibration scene.La présente invention concerne un procédé d'étalonnage d'un système d'imagerie à particules magnétiques qui est constitué d'un générateur de champ magnétique et d'un dispositif de mesure en proposant une scène d'étalonnage codée qui contient des échantillons de nanoparticules multiples distribués à l'intérieur de son volume, plus grande que le champ de vision sur lequel la scène est déplacée linéairement dans une ou plusieurs directions et/ou tournée à un ou plusieurs axes, et en outre, un système mécanique pour déplacer la scène d'étalonnage codée.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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