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光学层析装置
- 专利权人:
- 日立乐金光科技株式会社
- 发明人:
- 大泽贤太郎,千田直子,富田大辅
- 申请号：
- CN201510017571.0
- 公开号：
- CN104914074B
- 申请日:
- 2015.01.14
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供一种光学层析装置,抑制来自测量对象的表面的反射光的影响,得到测量对象的清晰的像。本发明的光学测量装置包括:出射激光的光源;使上述激光分束为信号光和参考光的光分束单元;使上述信号光会聚照射在测量对象上的物镜;使上述信号光的会聚位置在光轴方向上扫描的会聚位置扫描单元;使被测量对象反射或散射后的信号光与上述参考光合束而生成相位关系彼此不同的多束干涉光的干涉光学系统;检测上述多束干涉光,将多个检测信号作为电信号输出的光检测器;和对上述多个检测信号实施运算处理的信号处理部,在上述信号处理部中从上述多个检测信号的每一个或者从使用这些检测信号生成的各个信号中减去来自测量对象的特定部位的反射光成分。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
