The present invention relates to an apparatus for X-ray imaging an object. It is described to provide (20) data relating to the detection of X-rays, wherein an X-ray detector is configured to be positioned relative to an X-ray source such that at least a part of a region between the X-ray source and the X-ray detector is an examination region for accommodating an object. An X-ray interferometer arrangement is configured to be positioned relative to the examination region. At least one X-ray dark field factor and at least one transmission factor are determined for the X-ray radiation transmitted through at least part of the object is determined. An intensity of X-ray radiation to be emitted towards the at least part of the object is controlled as a function of the determined at least one dark field factor and the determined at least one transmission factor.La présente invention concerne un appareil permettant l'imagerie par rayons X d'un objet. L'invention permet de fournir (20) des données relatives à la détection des rayons X, un détecteur de rayons X étant conçu pour être positionné par rapport à une source de rayons X de telle sorte qu'au moins une partie d'une région entre la source de rayons X et le détecteur de rayons X est une région d'examen destinée à recevoir un objet. Un dispositif d'interféromètre à rayons X est conçu pour être positionné par rapport à la région d'examen. Au moins un facteur de rayons X en fond sombre et au moins un facteur de transmission sont déterminés pour le rayonnement de rayons X transmis à travers au moins une partie de l'objet. Une intensité de rayonnement de rayons X devant être émise vers la ou les parties de l'objet est commandée en fonction du ou des facteurs de champ sombre déterminés et du ou des facteurs de transmission déterminés.
