PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an interference light measuring apparatus for photographing an object to be measured by reducing influences of strong reflecting light from the object to be measured.SOLUTION: The interference light measuring apparatus has a light source unit, an interference optical system, a scanning part, a photographing optical system, an specifying part, and a control unit. The interference optical system divides low coherence light from the light source unit into signal light and referential light, superimposes reflecting light of the signal light by the eye to be tested and the referential light to generate interference light, and detects it. The scanning part scans an irradiation position of the signal light with respect to the eye to be tested. The photographing optical system is coaxial to a light path of the signal light in the interference optical system and photographs a front eye part of the eye to be tested. The specifying part specifies a strong reflection position being an irradiation position by the scanning part when the reflecting light of the signal light is in a strong reflecting state on the basis of a photographic image by the photographic operation system. The control unit lowers a quantity of low coherence light by controlling the light source unit when irradiating the specified strong reflection position with the signal light.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能な干渉光計測装置を提供する。【解決手段】干渉光計測装置は、光源ユニットと、干渉光学系と、走査部と、撮影光学系と、特定部と、制御部とを有する。干渉光学系は、光源ユニットからの低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼による信号光の反射光と参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被検眼に対する信号光の照射位置を走査する。撮影光学系は、干渉光学系における信号光の光路と同軸で被検眼の前眼部を撮影する。特定部は、撮影光学系による撮影画像に基づいて、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、特定された強反射位置に対して信号光を照射させるときに、光源ユニットを制御して低コヒーレンス光の光量を低下させる。【選択図】図3
