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Operationsmikroskop mit vergrößertem Arbeitsabstand
专利权人:
CARL ZEISS MEDITEC AG
发明人:
HÖGELE, ARTUR,Artur Högele
申请号:
DE102013008090
公开号:
DE102013008090B3
申请日:
2013.05.10
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Ein Operationsmikroskop 1 weist ein Abbildungssystem auf, welches ein in einer Fokusebene 4 des Abbildungssystems 2 anordenbares Objekt 3 entlang wenigstens eines Abbildungsstrahlengangs 2a, 2b vergrößert in ein mehrdimensionales Abbild des Objekts 3 abbildet. Das Abbildungssystem 2 umfasst ein Objektivsystem 5 mit mindestens zwei und insbesondere genau zwei Linsengruppen 6, 7, die von dem wenigstens einen Abbildungsstrahlengang 2a, 2b nacheinander durchsetzt werden, und die Fokusebene 4 des Abbildungssystems 2 festlegen. Wenigstens eine Linsengruppe 6 des Objektivsystems 5 ist entlang ihrer optischen Achse A relativ zu wenigstens einen anderen Linsengruppe 7 des Objektivsystems verlagerbar. Die der Fokusebene 4 entlang des wenigstens einen Abbildungsstrahlengangs 2a, 2b unmittelbar benachbarte erste Linsengruppe 6 des Objektivsystems 5 besteht aus mindestens drei optischen Linsen 61, 62, 63 und weist insgesamt eine negative Brechkraft auf.The microscope (1) i.e. digital optical reflected light microscope, has an imaging system comprising a lens system. The lens system is arranged with two lens groups. One of the lens groups of the lens system is displaceable along its optical axis (A) relative to another lens group of the lens system. A focal plane along imaging beam paths comprises three optical lenses and an overall negative refractive power. One lens group of the lens system is arranged with a focal length of about 35% of minimum focal length of the lens system.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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