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基于X射线荧光快速检测大米中重金属镉的方法
- 专利权人:
- 彭新凯;蒋健晖
- 发明人:
- 彭新凯,蒋健晖
- 申请号：
- CN201310683956.1
- 公开号：
- CN103645201A
- 申请日:
- 2013.12.13
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及重金属镉的检测技术领域，公开了一种基于X射线荧光快速检测大米中重金属镉的方法，包括：步骤S1，样品的前处理，将大米样品打碎并过筛，将过筛后的大米粉碎样品进行富集碳化处理，同时记录富集碳化处理前后的样品质量；步骤S2，测试样品的制备，将富集碳化处理后的黑色富集物置于样品杯中并压平整；步骤S3，样品的测试，采用手持式X射线荧光光谱仪测试样品，并在仪器的软件界面中输入步骤S1中所记录的录富集碳化处理前后的样品质量；步骤S4，手持式X射线荧光光谱仪显示大米样品中重金属镉的含量。本发明采用手持式X射线荧光光谱仪来快速检测大米中重金属镉的含量，具有检测灵敏度高、特异性高、简单快速和安全可靠等优点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
