谷粒粒形参数的高通量检测方法
- 专利权人:
- 北京派得伟业科技发展有限公司;北京农业信息技术研究中心
- 发明人:
- 吴建伟,杨宝祝,明博,申光磊,辛颖,韩建冰,彭浩,孙明军
- 申请号：
- CN201410023721.4
- 公开号：
- CN103808263B
- 申请日:
- 2014.01.20
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 刘洪京
- 摘要：
- 本发明公开了一种谷粒粒形参数的高通量检测方法，包括以下步骤，搭建粒形检测平台；检测环境标定；影像采集与图像分割；轮廓提取与特征参数采集；利用粒形参数预设阈值进行粘连籽粒与杂质筛除；分析轮廓内图像，实现高通量颜色及纹理特征检测；输出谷物粒形参数检测结果。该粒形参数检测方法，其检测结果准确可靠，相比人工测量方法而言，极大地提高了检测效率和稳定性。能够满足基因研究中对谷粒粒形参数的检测需求。实现简单，检测高效准确，达到了应用的要求。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
