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誘発電位検査プログラム
专利权人:
国立大学法人;千葉大学
发明人:
井川 信子,谷萩 隆嗣
申请号:
JP2010008475
公开号:
JP4997579B2
申请日:
2010.01.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an evoked potential inspection apparatus which has high inspection accuracy and can shorten a measurement time.SOLUTION: The evoked potential inspection apparatus has an evoked potential data recording part which records evoked potential signal data, a wavelet transformation part which performs wavelet transformation to the evoked potential signal data recorded by the evoked potential data recording part, and a display part which displays the evoked potential signal data converted by the wavelet transformation part on a display device.COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT【課題】高い検査精度を有しながらも測定時間の短縮を行うことのできる誘発電位検査装置を提供すること。【解決手段】誘発電位信号データを記録する誘発電位データ記録部と、誘発電位データ記録部が記録した誘発電位信号データに対してWavelet変換を行うWavelet変換部と、Wavelet変換部が変換した誘発電位信号データを表示装置に表示する表示部と、を有する誘発電位検査装置とする。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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