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검안경의 개선 및 검안경 관련 개선
专利权人:
OPTOS PLC
发明人:
MUYO GONZALOES,무요, 곤잘로,SWAN DEREKGB,스완, 데렉
申请号:
KR1020130160006
公开号:
KR1020140081724A
申请日:
2013.12.20
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
The present invention relates to an improvement of an ophthalmoscope and an improvement related to the ophthalmoscope. A method for determining a distortion correction in the eye representations of the ophthalmoscope according to the present invention includes the steps of: (i) constructing an optical description of a system including the ophthalmoscope and a model eye (ii) emitting a ray to reach on the surface of the model eye via the system (iii) calculating an actual measurement of the ray on the surface (iv) determining a horizontal scanning angle and a vertical scanning angle of the system for the ray (v) calculating an expected measurement of the ray on the surface by using the horizontal scanning angle and the vertical scanning angle of the system (vi) repeating (ii) to (v) steps for a plurality of further rays and (vii) comparing the actual measurements of the rays on the surface with the corresponding expected measurements of the rays on the surface to determine the distortion correction in the eye representations of the ophthalmoscope.COPYRIGHT KIPO 2014본 발명은 검안경의 개선 및 검안경 관련 개선에 관한 것으로서 본 발명에 따른 방법은 검안경(ophthalmoscope)의 눈 표현(eye representation)들에서의 왜곡 교정을 결정하는 방법으로서, (i) 상기 검안경과 모델 눈(model eye)을 포함하는 시스템의 광학적 기술(optical description)을 구성하는 단계, (ii) 상기 시스템을 관통하여 상기 모델 눈의 표면상에 도달하도록 광선을 조사하는 단계, (iii) 상기 표면에서의 상기 광선의 실제 측정치를 계산하는 단계, (iv) 상기 광선에 대한 상기 시스템의 수평 스캐닝 각도와 수직 스캐닝 각도를 결정하는 단계, (v) 상기 시스템의 상기 수평 스캐닝 각도와 수직 스캐닝 각도를 사용해 상기 표면에서의 상기 광선의 예상 측정치를 계산하는 단계, (vi) (ii) 내지 (v) 단계들을 복수의 추가적인 광선들에 대해 반복하는 단계, 및 (vii) 상기 검안경의 눈 표현들에서의 왜곡 교정을 결정하기 위해 상기 표면에서의 상기 광선들의 상기 실제 측정치들과 이에 대응하는 상기 표면에서의 상기 광선들의 예상 측정치들을 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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