X-射线微成像
- 专利权人:
- 杰特克公司
- 发明人:
- 汉斯·马丁·赫兹,雅各布·克里斯特·拉松,乌尔夫·伦德斯特伦,汉斯·丹尼尔·拉松,卡门·米哈埃拉·福格特
- 申请号：
- CN201580011381.6
- 公开号：
- CN106061388B
- 申请日:
- 2015.02.01
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明通过使用用于x‑射线荧光计算机断层扫描术的线发射的、准单色的x‑射线源,提供了在X‑射线成像领域中分辨率和对比度的提高。适合用于此目的的特定类型的x‑射线源是线发射的液体喷射阳极x‑射线源。使用纳米粒子,优选具有金属核心的涂覆纳米粒子获得X‑射线荧光。来自x‑射线源的x‑射线辐射在被递送到纳米粒子之前使用能量色散光学器件整形和滤光。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
