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一种荧光探针深度测量系统
专利权人:
中国科学技术大学
发明人:
邵鹏飞,高健,刘鹏
申请号:
CN201822026757.4
公开号:
CN209884116U
申请日:
2018.30.11
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
本实用新型公开了一种荧光探针深度测量系统,包括底座、支架、超声探头、显示输出装置,以及由控制模块、激发光源、摄像头、镜头和滤光片转轮组成荧光成像组件。本实用新型提供的荧光探针深度测量系统将荧光成像和超声成像功能结合,经过对荧光图像进行一定的图像处理后和结合组织的光学吸收和散射系数信息,利用荧光信号比与深度的关系可以计算获取逐像素点的深度信息,再结合超声的结构参数作为先验参数指导基于组织参数进行深度预测,使得在获取病灶的结构信息同时还能准确的获得病灶的深度信息。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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