用于校准X射线成像系统的方法和系统
- 专利权人:
- 塔莱斯公司
- 发明人:
- S·戈杰斯,G·伯纳德,Y·古纳德
- 申请号：
- CN201880087616.3
- 公开号：
- CN111655152A
- 申请日:
- 2018.12.28
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于在使用期间计算X射线成像系统的几何参数的方法，要观察的对象或患者被放置在X射线源与已经穿过对象或患者的X射线的探测器之间，其特征在于，其至少包括以下步骤：探测在所述对象或所述患者上或接近于所述对象的至少一个标记，所述标记具有未知3D位置；采集针对成像系统的多个视点的多幅2D图像，(32)；探测所采集的2D图像中的每幅中的至少一个标记的位置，(33)；估计对应于各个视角处的对象的投影的投影矩阵并且基于所述投影矩阵的估计在3D中重建标记的位置，(34、35)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
