CONTROL DEVICE AND INSPECTION METHOD

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专利权人:

SEIKO EPSON CORP;セイコーエプソン株式会社

发明人:

KAWAKAMI DAISUKE,川上 大介,MIYAZAKI SHINICHI,宮▲崎▼ 新一,ASAHI TSUNEMORI,旭 常盛

申请号：

JP2013196842

公开号：

JP2015062469A

申请日:

2013.09.24

申请国别(地区):

JP

年份:

2015

代理人:

摘要：

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem in which no consideration is given to an inspection of an electric system of a medical device.SOLUTION: A control device can be connected to a surgery device and controls the surgery device. Upon connection to the surgery device, the control device determines the quality of the surgery device by conducting a plurality of different inspections.【課題】医療機器の電気系統の検査について考慮されていないこと。【解決手段】制御装置は、手術機器と接続可能であって、手術機器を制御する。制御装置は、手術機器が接続された場合に、前記手術機器の良否を、異なる複数の検査を実施することにより判定する。【選択図】図４

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/