An imaging system for an optical element, the imaging system comprising means for illuminating a targeted optical element with at least one incident light beam and means for directing at least two light beams returning from at least one surface of the illuminated optical element onto a detector the detector adapted to measure relative light characteristics of the at least two returning light beams and to calculate at least one parameter of the optical element using the measured characteristics of the at least two returning light beams.光学素子のための撮像システムにおいて、当該撮像システムが、少なくとも1つの入射光ビームで標的光学素子を照明するための手段と、照明された光学素子の少なくとも1つの表面から戻る少なくとも2つの光ビームを検出器に案内するための手段であって、検出器が、少なくとも2つの戻り光ビームの相対光特性を測定し、少なくとも2つの戻り光ビームの測定された特性を使用して、光学素子の少なくとも1つのパラメータを計算するように適合される、案内するための手段とを備える、撮像システム。【選択図】図2