센스­타입 자기 공명 재구성에서 기준 오버샘플링

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专利权人:

SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT

发明人:

WANG QIUCN,왕, 퀴우,GOL DERYATR,골, 더야,ZENGE MICHAELDE,쳉어, 미하엘,NICKEL MARCEL DOMINIKDE,닉켈, 마르셀 도미니크,MUELLER EDGARDE,뮐러, 에트가,NADAR MARIAPPAN S.US,나다르, 마리아판 에스.

申请号：

KR1020140109074

公开号：

KR1020150021904A

申请日:

2014.08.21

申请国别(地区):

KR

年份:

2015

代理人:

摘要：

Magnetic resonance imaging uses regularized SENSE reconstruction (22) for a reduced field of view, but minimizes folding artifacts. A reference scan (14) is oversampled (16) relative to the reduced field of view. The oversampling (16) provides coil sensitivity information for a region greater than the reduced field of view. The reconstruction (22) of the object for the reduced field of view using the coil sensitivities for the larger region can have fewer folding artifacts.COPYRIGHT KIPO 2015자기 공명 이미징은 감소된 시야에 대한 조절된 SENSE 재구성(22)을 사용하지만, 폴딩 인공물들을 최소화한다. 기준 스캔(14)이 감소된 시야와 관련하여 오버샘플링(16)된다. 오버샘플링(16)은, 감소된 시야보다 더 큰 구역에 대한 코일 감도 정보를 제공한다. 더 큰 구역에 대한 코일 감도들을 이용한 감소된 시야에 대한 대상의 재구성(22)은 더 적은 폴딩 인공물들을 가질 수 있다.

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/