This X-ray phase imaging device (100) is provided with a control part (5) for controlling an adjustment mechanism part (3) so that a dark field image (Iv) is generated for each of a plurality of relative positions of an image formation grid part (G1) and a subject (S) changed by the adjustment mechanism part (3), the contrast of a region of interest (ROI) in each of the dark field images (Iv) is acquired, and the relative positions of the subject (S) and the image formation grid part (G1) are adjusted on the basis of the acquired contrasts.La présente invention concerne un dispositif d'imagerie en phase à rayons X (100) pourvu d'une partie de commande (5) permettant de commander une partie mécanisme de réglage (3) de telle sorte qu'une image de champ sombre (Iv) est générée pour chacune d'une pluralité de positions relatives d'une partie de grille de formation d'image (G1) et d'un sujet (S) modifiées par la partie mécanisme de réglage (3), le contraste d'une région d'intérêt (ROI) dans chacune des images de champ sombre (Iv) est acquise, et les positions relatives du sujet (S) et de la partie de grille de formation d'image (G1) sont réglées sur la base des contrastes acquis.このＸ線位相イメージング装置（１００）は、調整機構部（３）により変化させられた被写体（Ｓ）と結像格子部（Ｇ１）との複数の相対的な位置の各々に対して、暗視野像（Ｉｖ）をそれぞれ生成して、各々の暗視野像中（Ｉｖ）の関心領域（ＲＯＩ）のコントラストを取得するとともに、取得された各々のコントラストに基づいて、被写体（Ｓ）と結像格子部（Ｇ１）との相対的な位置を調整するように調整機構部（３）を制御する制御部（５）を備える。
