同步型栅格的箔影去除方法以及使用了该方法的放射线摄影装置
- 专利权人:
- 株式会社岛津制作所
- 发明人:
- 藤田明德
- 申请号：
- CN201080022446.4
- 公开号：
- CN102438526B
- 申请日:
- 2010.05.12
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 从透视图像提取未受到栅格箔影的影响的像素的检测信号并实施插值处理，由此计算近似透视图像(S2或S2’)，计算透视图像与近似透视图像之差，从而计算栅格箔影图像(S3)，使栅格箔影图像在栅格箔影的长度方向上平均化，来计算箔影标准图像(S4)，计算透视图像与箔影标准图像之差来去除栅格箔影(S5)，由此能够去除同步型栅格的栅格箔影。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
