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Ultrasonic probe, ultrasonic diagnostic apparatus, and test method for ultrasonic probe
专利权人:
株式会社日立製作所
发明人:
梶山 新也,五十嵐 豊,勝部 勇作,西元 琢真
申请号:
JP2017507627
公开号:
JPWO2016152375A1
申请日:
2016.02.25
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
Without making electrical contact with a large number of terminals connected to the vibrator, it is possible to perform a test for screening defects in the IC transmission / reception circuit at low cost and without violating withstand voltage. In a transmission / reception separation switch circuit that uses a transistor as a switch element, the gate potential is lowered from the time of reception during testing to avoid violation of the breakdown voltage between the gate and source when a large amplitude signal is input, and the internal signal without destroying the reception circuit Perform a loopback test.振動子に接続される多数の端子に電気的接触を行うことなしに、低コストかつ耐圧違反なくIC内送受信回路の不良をスクリーニングするためのテストを可能とする。 トランジスタをスイッチ素子とする送受分離スイッチ回路において、テスト時はゲートの電位を受信時よりも下げることで大振幅信号入力時のゲート-ソース間耐圧違反を避け、受信回路を破壊することなく内部信号ループバックテストを行う。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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