X射线成像装置和测量方法
- 专利权人:
- 佳能株式会社
- 发明人:
- 土谷佳司
- 申请号：
- CN201110209888.6
- 公开号：
- CN102342840A
- 申请日:
- 2011.07.26
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及X射线成像装置和测量方法。一种获得X射线图像的X射线成像装置，该装置包括：成像单元，包括适于将由根据操作指令输出或停止X射线的X射线成像装置产生的X射线转换成图像信号的多个检测元件；和获得单元，适于基于从成像单元输出的图像信号获得X射线产生装置的操作开始定时并且获得对于X射线产生装置的操作指令的定时与操作开始定时之间的差值。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
