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APPARATUS AND METHOD OF MEASURING REFERENCE SPECTRUM TO ANALYZE SAMPLE, AND APPARATUS AND METHOD OF ANALYZING SAMPLE
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
EOM, KUN SUNKR,엄근선
申请号:
KR1020150119044
公开号:
KR1020170023628A
申请日:
2015.08.24
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
Disclosed are an apparatus and a method of measuring a reference spectrum to analyze a sample, and an apparatus and a method of analyzing the sample capable of increasing a signal to noise ratio (SNR) of a sample spectrum by converting the sample spectrum into a spectrum having a 100% reflectance after adjusting the parameters of a spectroscope to be advantageous to measure the sample, and adjusting reflectance of a reference material to measure a spectrum having low reflectance.COPYRIGHT KIPO 2017시료 측정에 유리하도록 분광기의 파라미터를 조정하고, 레퍼런스 물질의 반사도를 조절하여 낮은 반사도의 스펙트럼을 측정한 후 100% 반사도의 스펙트럼으로 변환함으로써 시료 스펙트럼의 신호대 잡음비(Signal to Noise Ratio: SNR)을 높일 수 있는 시료 분석을 위한 레퍼런스 스펙트럼 측정 장치 및 방법, 시료 분석 장치 및 방법이 개시된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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